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荧光X线膜厚计

荧光X线膜厚计
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供应数量:
1164
发布日期:
2025/1/7
有效日期:
2025/7/8
原 产 地:
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1164
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镀层测厚仪中文视窗操作测量系统
解析度0.001μm
小测量面积0.1mmφ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
籍由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业
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